然而，由于以(x, y)色度坐標所建構之色域為非均勻性，使色差難以量化表示，所以CIE于1976年將CIE 1931色度坐標加以轉換，使其所形成之色域為接近均勻之色度空間，讓色彩差異得以量化表示，即CIE 1976 UCS(Uniform Chromaticity Scale)色度坐標，以(u', v')表示
主波長(λD)
其亦為表達顏色的方法之一，在得到待測件的色度坐標(x, y)后，將其標示于CIE色度坐標圖(如下圖)上，連結E光源色度點(色度坐標(x,y)=(0.333, 0.333))與該點并延伸該連結線，此延長線與光譜軌跡(馬蹄形)相交的波長值即稱之為該待測件的主波長。惟應注意的是，此種標示方法下相同主波長將代表多個不同色度點，是以用于待測件色度點鄰近光譜軌跡時較具意義，而白光LED則無法以此種方式描述其顏色特性。
純度(Purity)
其為以主波長描述顏色時之輔助表示，以百分比計，定義為待測件色度坐標與E光源之色度坐標直線距離與E光源至該待測件主波長之光譜軌跡(Spectral Locus)色度坐標距離的百分比，純度愈高，代表待測件的色度坐標愈接近其該主波長的光譜色，是以純度愈高的待測件，愈適合以主波長描述其顏色特性，LED即是一例。
色溫(Color Temperature)
光源之輻射能量分布與某一絕對溫度下之標準黑體 (Black Body Radiator) 輻射能量分布相同時，其光源色度與此黑體輻射之色度相同，此時光源色度以所對應之絕對溫度表之，此溫度稱之為色溫( Color Temperature)，而在各溫度下之黑體輻射所呈現(xiàn)之色度可在色度圖上標出曲線，稱之為蒲朗克軌跡(Planckian Locus)。標準黑體的溫度愈高，其輻射出的光線對人眼產(chǎn)生藍色刺激愈多，紅色刺激成分亦相對減少。然而在實際量測上，無任何光源具有跟黑體相同的輻射能量分布，換言之，待測光源之色度通常并未落在蒲朗克軌跡上。因此計算待測光源之色度坐標所最接近蒲朗克軌跡上某個坐標點，此點之黑體溫度即定義為該光源之相關色溫(Correlated Color Temperature; CCT)，通常以CIE 1960 UCS ( u, v)色度圖求之，并配合色差△uv加以描述。須注意的是，此種表示方式對光源色度鄰近蒲朗克軌跡時方具意義，是以對于LED量測而言，僅適用于白光LED之顏色描述。
半功率角量測
所謂半功率角定義為仰角0度時，由LED的幾何中心點起算相對光強度為50﹪的兩點間所張之角度。其量測方式系以光偵測器依LED中心位置為0度，由-90度掃描至+90度，即可得該待測LED之空間輻射分布圖，如下圖所示。再依定義求得半功率角，惟須注意的是光偵測器的受光面積不宜太大，以免影響量測分辨率。
全光通量量測
光通量量測有雙旋角光度計(Goniophotometer)與積分球(Integrating Sphere)量測兩種方式，雖然雙旋角光度計可得到精確的量測值，但由于設備昂貴且復雜，一般均采用積分球量測方式，其架構示意如下。須注意的是隨待測LED大小不同，積分球開孔孔徑亦會變化，使用之積分球大小亦須調整匹配。
結論
隨著LED產(chǎn)品從早期的顯示用途擴展到照明設備的應用，以及封裝方式的多元化，如何正確地量測LED特性，并因應不同應用需求變化量測方式，已成為提升LED產(chǎn)品品質的重要課題，是以在進行LED量測時，須特別注意下列兩個問題：
1. 測試方式是否依循國際公認之量測規(guī)范？
為使量測結果可通用比較，測試方式須基于相同條件下方得以溝通，為此，國際照明協(xié)會考量LED的發(fā)光特性，制定了條件A與條件B二種不同測試條件，以量測不同輻射空間分布特性LED之平均光強度（CIE 127-1997），是以在選擇測試設備時，須注意其系統(tǒng)設計是否依循CIE測試規(guī)范？儀器校正是否追溯國家標準（如美國國家標準NIST或中 華民國國家標準NML）？全光通量量測時積分球是否依待測LED尺寸大小選擇合適之規(guī)格？以及積分球之幾何設計是否合于CIE規(guī)范？
2. LED之特性描述是否完整？<BR>為滿足LED的多元應用需求，使用之測試設備須可提供以下諸項之測試結果：Iv、Φ、(x, y)、λD、λP 、△λ0.5、(u',v')、CCT、Purity、Spectral Distribution、Spatial Radiation、VF、IR、VBR、CVF 與 THY。且為因應多晶封裝LED之測試需求，其測試系統(tǒng)之軟硬件設計亦必須可支持。
綜上所述，LED業(yè)者若能對量測方式有正確認知并加以落實，將更能掌握LED的各種特性，進而改善其產(chǎn)品規(guī)格，提升附加價值，以利于各式產(chǎn)品的應用。