大口徑非球面精磨面形狀檢測(cè)研究
介紹了一種大相對(duì)口徑非球面精磨階段面形的測(cè)量方法原理及實(shí)現(xiàn)其功能的軟件設(shè)計(jì)。利用機(jī)械接觸式裝置,通過長導(dǎo)軌及其光柵探頭的高度變化來直接測(cè)量非球面的矢高,并把所測(cè)得的三維數(shù)據(jù)傳輸給計(jì)算機(jī)。經(jīng)數(shù)據(jù) ..
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S=Σ[W*i-W(ρi,θi)]2 i=1 L W(ρi,θi)=ΣBjV*i(ρi,θi) j=1 作最小二乘求導(dǎo),得 аS/(аBp)=0 p=1,2,3,…,L L N N ΣBjΣVjVp-ΣW*i Vp=0 j=1 i=1 i=1 有正交化條件,得 N N Bp=ΣW*i Vp/ΣV2p i=1 i=1 由此得到波前的正交表達(dá)式系數(shù)。 5.軟件結(jié)構(gòu) 該軟件的主要程序是利用數(shù)值計(jì)算功能強(qiáng)大的MATLAB數(shù)學(xué)軟件編制而成,該軟件具有豐富的函數(shù)庫,簡潔直觀的程序開發(fā)環(huán)境。把MATLAB的程序通過VC++編譯后,在VC++上調(diào)用經(jīng)過編譯的程序,這樣可以提高程序的運(yùn)行速度。軟件的界面是利用VC++編制而成的,充分利用了VC++在開發(fā)應(yīng)用程序界面上的強(qiáng)大功能。 整個(gè)軟件的基本框架如圖3所示。整個(gè)數(shù)據(jù)的誤差來源主要是數(shù)據(jù)采集與數(shù)據(jù)修正。 6.軟件仿真 由于實(shí)驗(yàn)設(shè)備正在加工之中,這里假定誤差數(shù)據(jù)是利用zernike多項(xiàng)式擬合,并經(jīng)數(shù)據(jù)處理后擬合出的圖形。如圖4所示,其pv = 3.0641μm, rms = 0.3204μm。截面圖是角度與經(jīng)圓心與Y軸平行的一個(gè)截面,其pv = 1.0423μm, rms = 0.2580μm。圖5是經(jīng)過去傾斜、離焦、慧差后的圖象,其pv = -0.0116μm, rms = 0.2300μm,截面的pv = 0.4244μm,rms = 0.0672μm。 7.結(jié)束語 本文給出了一種基于zernike多項(xiàng)式擬合的精密面形檢驗(yàn)方法,并驗(yàn)證了該軟件的可行性。盡管此法不如干涉儀直觀,由于儀器的精度和測(cè)量時(shí)修正等客觀因素的影響,不如干涉儀精度高,但是它對(duì)于大口徑的非球面精磨來說,在干涉方法不能使用的情況下卻是一種行之有效的方法。 參考文獻(xiàn): [1]余景池,張學(xué)軍,等.計(jì)算機(jī)控制非球面加工精磨階段的檢測(cè)技術(shù)[J].光學(xué)技術(shù),1998,(5):38~40. [2]費(fèi)業(yè)泰.誤差理論與數(shù)據(jù)處理[M].合肥:合肥工業(yè)大學(xué)出版社(第三版),1997. [3]RE帕克斯著;揭德爾譯.測(cè)量模板誤差的消除[J].光學(xué)技術(shù),1982.(4). [4]Daniel Malacara. Optical Shop Testing[M]. John Wiley & Sons Inc,1978. [5]韋春龍,陳明儀,王之江.運(yùn)用澤尼克多項(xiàng)式的相位去包裹算法[J].光學(xué)學(xué)報(bào),1998,(7):912~913. [6]普里亞耶夫著;楊力譯;潘君華校.光學(xué)非球面檢驗(yàn)[M].北京:科學(xué)出版社,1982. [7]高俊斌.MATLAB5.0語言與程序設(shè)計(jì)[M].武漢:華中理工大學(xué)出版社,1998.[/Z][/J][/W] |
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