TracePro是一套功能強大、準(zhǔn)確可靠、介面友善、易學(xué)易用的光線追跡模擬軟體，專門作為照明設(shè)計或是光學(xué)機構(gòu)設(shè)計之用。TracePro可以進行光學(xué)成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等，幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。

TracePro擁有完整成熟的視窗介面，其直覺友善的設(shè)計架構(gòu)，可以非�？焖俚刈屖褂谜呤煜ぼ涹w的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心，能輕易地新建或匯入光學(xué)模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規(guī)格(SAT檔)，故其幾何轉(zhuǎn)檔上的相容性極高。另外，TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔桉格式。亦可匯入鏡頭設(shè)計檔桉(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做后續(xù)光線追跡之用。TracePro獨家研發(fā)的RepTile功能，可方便地建構(gòu)重複性的光學(xué)零組件，特別像是LCD的背光模組導(dǎo)光板上的網(wǎng)點結(jié)構(gòu)設(shè)計，可以大幅減低建模時間，加速產(chǎn)品的開發(fā)生產(chǎn)時程。

TracePro的光線追跡的運算核心屬于非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing)，除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外，亦可使用內(nèi)建的光源及材料資料庫來執(zhí)行光學(xué)材料的設(shè)定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學(xué)薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學(xué)材料行為。搭配Monte Carlo的統(tǒng)計採樣計算方式，其光線追跡的結(jié)果十分可靠，能夠準(zhǔn)確地預(yù)測光學(xué)行為。

在分析結(jié)果后處理的部分，TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行后處理的視覺化輸出，并可以匯出該結(jié)果作為儲存或資料交換之用，有助于企業(yè)累積其產(chǎn)品知識。