摘要：二維太赫茲探測(cè)成像適用于以太赫茲波作為探測(cè)波的安全檢查和質(zhì)量控制等方面。為實(shí)現(xiàn)大視場(chǎng)的二維太赫茲探測(cè)成像光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，根據(jù)匹茲萬(wàn)條件，分析了光學(xué)三反系統(tǒng)面型，并提出了一種反遠(yuǎn)距離軸三反結(jié)構(gòu)，設(shè)計(jì)了視場(chǎng)角為20°x20°焦距為70mm，F(xiàn)數(shù)為3.5的離軸三反光學(xué)系統(tǒng)。設(shè)計(jì)結(jié)果表明，該光學(xué)系統(tǒng)調(diào)制傳遞函數(shù)接近衍射極限，各個(gè)視場(chǎng)的點(diǎn)列圖均方根半徑均遠(yuǎn)小于艾里斑半徑，具有良好的成像質(zhì)量，滿足設(shè)計(jì)要求。

太赫茲（THz）波介于毫米波與紅外波之間,屬于遠(yuǎn)紅外波段.相較其他波段。THz波具有高透性、低能性及指紋譜性等特征。正是這些特性賦予了THz波段廣泛的應(yīng)用前景,許多國(guó)家已對(duì)THz波給予了高度重視。目前，國(guó)內(nèi)外已研制出多種成像系統(tǒng)，美國(guó)、歐洲、日本等已經(jīng)研制了用于空間THz波段照相及用于安檢的THz成像系統(tǒng)，國(guó)內(nèi)研究機(jī)構(gòu)及大學(xué)也展開(kāi)對(duì)THz技術(shù)研究并取得了成果。

THz波段可穿透大部分的非極性電介質(zhì)物體，因此二維太赫茲探測(cè)成像適用于安全檢查和質(zhì)量控制等。傳統(tǒng)掃描方式THz成像由于采用逐點(diǎn)記錄的方式，因此非常耗時(shí)。要縮短THz成像的耗時(shí)，最好的方法是采取光學(xué)成像的模式。由于成像光學(xué)系統(tǒng)將透過(guò)物體（或物體表面反射）的THz波直接成像到一個(gè)二維的THz探測(cè)器陣列上，并通過(guò)該探測(cè)器陣列直接讀出物體的太赫茲像。作為二維太赫茲探測(cè)成像的重要組成部分，太赫茲光學(xué)系統(tǒng)是關(guān)鍵技術(shù)之一。本文由匹茲萬(wàn)條件出發(fā)，選取短焦大視場(chǎng)的反遠(yuǎn)距式作為光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，采用離軸偏視場(chǎng)的方式實(shí)現(xiàn)無(wú)中心遮攔，并且加入平面鏡以縮小系統(tǒng)的總長(zhǎng)度，設(shè)計(jì)適用于THz探測(cè)成像的大視場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)。

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