從結(jié)果可以看出：公差變得十分寬松，厚度的公差允許量變?yōu)楣�差的上極限0.5mm。#號表示半徑的公差造成的調(diào)整量已經(jīng)達(dá)到或超過調(diào)整量的極限，調(diào)整量的缺省值為所選擇公差參數(shù)缺省值的20倍（即20*0.025=0.5mm）。實際系統(tǒng)的調(diào)整量都有各自的極限值，這個調(diào)整量通常由設(shè)計人員根據(jù)結(jié)構(gòu)安排、體積等因素來確定。我們重新進(jìn)行公差分析，將調(diào)整量變?yōu)?mm，CMP DLZ SI 3.0；TOR；INV 0.01；ROU N；GO，結(jié)果如圖4：

 

圖4 Defocus為3mm時的結(jié)果

結(jié)果給出了RMS波像差改變0.01waves時的半徑公差，注意TOR確定的公差結(jié)果是針對于性能下降最厲害的視場或變焦距位置，也就是說TOR可以對于每一個視場或變焦距位置都能正確地計算每一個被設(shè)計人員設(shè)置的公差。

強(qiáng)調(diào)一點，實際加工制造系統(tǒng)的過程是一個循環(huán)往復(fù)的過程，所以我們應(yīng)該選擇TOR分析的Rounding按鈕，這在Code V中也設(shè)為了缺省值。選擇Rounding進(jìn)行誤差分析的結(jié)果如圖5：

 

圖5 選擇Rounding進(jìn)行誤差分析的結(jié)果

Code V不僅提供了每一個公差造成系統(tǒng)性能變化的靈敏度信息，而且還給出了系統(tǒng)整體性能的概括信息，如圖6：

 

圖6 系統(tǒng)整體性能變化情況

圖6中的信息為加工得到的系統(tǒng)有98%可能性能不大于RMS波像差0.4489waves。另外還有更為詳細(xì)的圖表形式表示某一性能下系統(tǒng)的概率分布，在這里就不在詳述。