- 地點(diǎn)時(shí)間 -

主辦單位：Thin Film Center Inc. & 訊技光電科技（上海）有限公司 

協(xié)辦單位：常熟黌論教育咨詢有限公司

授課時(shí)間：2018年11月28(三)-30(五) AM 9:00-PM 16:00

授課地點(diǎn)：上海（開課前兩周郵件通知） 

- 專家介紹 -

Chris Clark先生是美國(guó)Thin Film Center的研發(fā)總裁，Essential Macleod軟件的開發(fā)者之一。他畢業(yè)于蘇塞克斯(Sussex)大學(xué)電子工程專業(yè)，是一名注冊(cè)工程師。Chris Clark曾在布賴頓技術(shù)學(xué)院(Brighton Technical College)擔(dān)任講師職務(wù)，在各種系統(tǒng)（從雷達(dá)探測(cè)到光學(xué)檢驗(yàn)）的計(jì)算機(jī)和軟件開發(fā)中積累了大量經(jīng)驗(yàn)，于1993年加入Thin Film Center。他主要負(fù)責(zé)Essential Macleod軟件的開發(fā)工作。已在光學(xué)薄膜類的期刊上發(fā)表超過(guò)20篇論文。

- 課程特色 -

交互式的教學(xué)能激發(fā)與開拓學(xué)員的設(shè)計(jì)思路，結(jié)合原廠專家Chris Clark先生的講解深入了解Essential Macleod 薄膜軟件的設(shè)計(jì)理念，從而延伸到各自的領(lǐng)域，滿足學(xué)員的需求。

- 課程簡(jiǎn)介 -

為滿足廣大學(xué)員的需要，本次課程為靈活的交互式課程，學(xué)員全程上機(jī)操作。課程大綱可根據(jù)課程進(jìn)展情況及學(xué)員需求隨時(shí)變動(dòng)。該課程涵蓋了薄膜設(shè)計(jì)方法，并且還包含薄膜性能的理解、薄膜制備工藝、逆向工程、材料的屬性與測(cè)量、系統(tǒng)中的薄膜性能及常見薄膜案例等。本次課程期間給學(xué)員提供Essential Macleod 薄膜軟件，對(duì)軟件有無(wú)經(jīng)驗(yàn)的學(xué)員皆可參加。聘請(qǐng)的講師為軟件原廠開發(fā)者，在薄膜領(lǐng)域有豐富的經(jīng)驗(yàn)，同時(shí)課程中留有時(shí)間給學(xué)員和講師互動(dòng)和交流。

- 課程大綱 -

1.        介紹軟件

1.1        運(yùn)行程序

1.2        創(chuàng)建一個(gè)簡(jiǎn)單的設(shè)計(jì)

1.3        繪圖和制表來(lái)表示性能

1.4        3D繪圖-用兩個(gè)變量繪圖表示性能

1.5        創(chuàng)建一個(gè)默認(rèn)設(shè)計(jì)

1.6        文件位置

2.        通過(guò)剪貼板和文件導(dǎo)入導(dǎo)出數(shù)據(jù)

3.        約定-程序中使用的各種術(shù)語(yǔ)的定義

3.1        厚度（物理厚度，光學(xué)厚度，幾何厚度）

3.2        單位定義

3.3        軟件如何進(jìn)行數(shù)據(jù)插值

3.4        可用的材料模型（Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann）