4.定義強(qiáng)度分析的測(cè)試點(diǎn)

為強(qiáng)度分析定義測(cè)試點(diǎn)意味著至少需要您指定測(cè)試點(diǎn)的數(shù)量及其角度坐標(biāo)位置。您可以選擇為該測(cè)試點(diǎn)指定標(biāo)簽，也可以指定目標(biāo)（最小和/或最大）值。

（1）創(chuàng)建模型, 模型必須包含至少一個(gè)表面接收器和一個(gè)擴(kuò)展光源（可以是表面，體或光線數(shù)據(jù)光源，但不包括點(diǎn)光源）。如果接收器連接到表面，它必須是平面或透鏡表面。

圖9.強(qiáng)度反向測(cè)試點(diǎn)

（2）在菜單中依次選擇Analysis > Test Points > Intensity

（3）在對(duì)象導(dǎo)航器中選擇要為其定義測(cè)試點(diǎn)的接收器。.

（4）單擊“定義點(diǎn)”按鈕，然后選擇以下選項(xiàng)之一：

圖10.添加測(cè)試點(diǎn)

- 創(chuàng)建默認(rèn)測(cè)試點(diǎn)為9個(gè)點(diǎn)。對(duì)于表面和遠(yuǎn)場(chǎng)接收器，對(duì)于指定的測(cè)光類(lèi)型，點(diǎn)均勻分布劃分：

Type A型和Type B型：兩個(gè)方向從-30°到30°。 

Type C：沿垂直方向，緯度從0°到180°，在180°橫向平面中。

- 導(dǎo)入點(diǎn)集使您可以從外部文件輸入測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)。如果選擇此選項(xiàng)，則會(huì)顯示“打開(kāi)”對(duì)話框，以便您可以導(dǎo)航到相應(yīng)的文件并選擇它。

*導(dǎo)入測(cè)試點(diǎn)文件格式：測(cè)試點(diǎn)數(shù)據(jù)的文件采用（.xml）格式，您可以使用任何文本編輯器進(jìn)行編輯。本節(jié)提供有關(guān)此格式的一些背景信息以及如何使用它來(lái)為測(cè)試點(diǎn)創(chuàng)建規(guī)范文件。以下示例顯示了一組五個(gè)測(cè)試點(diǎn)的文件。

圖11.測(cè)試點(diǎn)格式文本