Graphene Flagship的研究人員已經(jīng)開發(fā)出一種新的測量標(biāo)準(zhǔn)，用于分析石墨烯和分層材料中的結(jié)構(gòu)，這可以加快生產(chǎn)和優(yōu)化設(shè)備制造。X射線掃描通過讓我們無需手術(shù)就能看到人體內(nèi)部，從而徹底改變了醫(yī)學(xué)治療。

同樣，太赫茲光譜儀可以穿透石墨烯薄膜，使科學(xué)家能夠在不破壞或污染材料的情況下，對其電氣質(zhì)量進(jìn)行詳細(xì)的描繪。石墨烯旗艦將學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員聚集在一起，開發(fā)并成熟了這一分析技術(shù)，現(xiàn)在一種用于石墨烯表征的新型測量工具已經(jīng)準(zhǔn)備就緒。

這一努力得益于石墨烯旗艦項(xiàng)目歐洲聯(lián)盟營造的合作環(huán)境，來自石墨烯旗艦項(xiàng)目合作伙伴丹麥DTU、意大利IIT、芬蘭阿爾托大學(xué)、英國AIXTRON、比利時(shí)imec、西班牙Graphenea、波蘭華沙大學(xué)和法國Thales R&T的科學(xué)家，以及中國、韓國和美國的合作者都參與其中。

石墨烯經(jīng)常被 "夾 "在許多不同的層和材料之間，以用于電子和光子器件。這使得質(zhì)量評估的過程變得復(fù)雜。而太赫茲光譜學(xué)使事情變得簡單。它可以對封裝材料進(jìn)行成像，并揭示下面石墨烯的質(zhì)量，暴露制造過程中關(guān)鍵點(diǎn)的缺陷。這是一種快速、非破壞性的技術(shù)，可以探測石墨烯和層狀材料的電特性，而無需直接接觸。

像太赫茲光譜這樣的表征技術(shù)的發(fā)展是加速大規(guī)模生產(chǎn)的基礎(chǔ)，因?yàn)樗鼈儽ＷC了石墨烯功能器件的制造是一致的、可預(yù)測的、沒有缺陷的。質(zhì)量控制先于信任。得益于Graphene Flagship開創(chuàng)的其它技術(shù)進(jìn)展，如石墨烯和分層材料的卷對卷生產(chǎn)讓制造技術(shù)已經(jīng)準(zhǔn)備好邁向下一步。太赫茲光譜技術(shù)使我們能夠在不忽視質(zhì)量的前提下加快石墨烯的生產(chǎn)速度。得益于太赫茲光譜技術(shù)，制造者可以在不接觸石墨烯樣品的情況下，輕松繪制出甚至是米級的石墨烯樣品，這在其他一些最先進(jìn)的技術(shù)中是不可能的。此外，石墨烯旗艦?zāi)壳罢�在研究如何將太赫茲光譜直接應(yīng)用到卷對卷石墨烯生產(chǎn)線中，并加快成像速度。