蘭州大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)在光學(xué)模式與偏振復(fù)用器領(lǐng)域取得新發(fā)現(xiàn)
在薄膜鈮酸鋰晶圓的表面沉積一層氮化硅薄膜,通過(guò)成熟的CMOS兼容工藝刻蝕氮化硅層可以得到氮化硅-鈮酸鋰異質(zhì)脊型波導(dǎo),解決了直接刻蝕鈮酸鋰薄膜帶來(lái)的波導(dǎo)側(cè)壁角度等問(wèn)題,并基于該波導(dǎo)實(shí)現(xiàn)了高性能的模式和偏振復(fù)用器件。
由于氮化硅材料擁有略低于鈮酸鋰材料的折射率,因此大部分光場(chǎng)仍限制在鈮酸鋰中,如圖1所示,這樣的性質(zhì)有利于在同一塊襯底上利用鈮酸鋰優(yōu)異的材料屬性實(shí)現(xiàn)電光調(diào)制器和光學(xué)非線性器件。同時(shí),氮化硅材料還擁有與鈮酸鋰相似的光學(xué)透明窗口,有助于實(shí)現(xiàn)超寬帶器件。合作團(tuán)隊(duì)前期在基于氮化硅-薄膜鈮酸鋰異質(zhì)集成的光子器件方面還完成了一些相關(guān)工作:(1) 光柵耦合器 [APL Photonics 6(8), 086108, 2021],只需一步刻蝕,最大耦合效率~ -4 dB,3 dB帶寬大于70 nm,是該平臺(tái)上光柵耦合器的首次報(bào)道;(2) 電光調(diào)制器 [Optics Letters 46(23), 5986-5989, 2021],驗(yàn)證了對(duì)OOK信號(hào)的高速電光調(diào)制,演示的最大調(diào)制速率可達(dá)80 Gbps。 圖1. (a) 直刻薄膜鈮酸鋰波導(dǎo)的制作工藝和波導(dǎo)中的模場(chǎng)圖 (b) 氮化硅-薄膜鈮酸鋰異質(zhì)波導(dǎo)的制作工藝和波導(dǎo)中的模場(chǎng)圖 鈮酸鋰是典型的各向異性晶體,基于前期的研究工作,團(tuán)隊(duì)研究人員通過(guò)仿真計(jì)算得到了鈮酸鋰不同晶體學(xué)軸的光學(xué)模式特性(圖2),并率先提出了基于該平臺(tái)的高性能模式和偏振復(fù)用方案:在鈮酸鋰晶體學(xué)Z軸方向?qū)崿F(xiàn)模式復(fù)用,晶體學(xué)Y軸方向?qū)崿F(xiàn)偏振復(fù)用。 圖2. (a) 晶體學(xué)Y軸模式有效折射率與氮化硅脊寬度的關(guān)系 (b) 晶體學(xué)Z軸模式有效折射率與氮化硅脊寬度的關(guān)系 |
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