一種無(wú)透鏡成像的新方法
為了研究微電子或光子元件中的納米級(jí)圖案,一種基于無(wú)透鏡成像的新方法可以實(shí)現(xiàn)近乎完美的高分辨率顯微鏡。
當(dāng)科學(xué)家們用渦旋形HHG光束照亮他們的顯微鏡時(shí)(見(jiàn)附圖),產(chǎn)生了更復(fù)雜的散射圖案,隨著樣品的掃描而變化。這些變化編碼了關(guān)于樣品重復(fù)圖案的信息,使算法能夠提取出精確的圖像。 散射圖案 除了這一令人興奮的結(jié)果外,這種新型渦流束無(wú)透鏡成像技術(shù)對(duì)微細(xì)樣本的損傷也小于掃描電子顯微鏡。由于許多軟材料、塑料和生物樣本都很脆弱,因此以精確而溫和的方式對(duì)它們進(jìn)行成像至關(guān)重要。 此外,渦流束無(wú)透鏡成像在檢測(cè)納米圖案中的缺陷方面比掃描電子顯微鏡更有效,因?yàn)閽呙桦娮语@微鏡往往會(huì)熔化精細(xì)的樣品。 圖案,圖案,到處都是——現(xiàn)在我們可以看得更清楚了 對(duì)于為下一代納米、能源、光子和量子器件制造圖案化材料的科學(xué)家來(lái)說(shuō),這一進(jìn)步實(shí)現(xiàn)了對(duì)高度周期性結(jié)構(gòu)的高分辨率成像,而不會(huì)破壞它們。正如Kapteyn所闡述的那樣:“在未來(lái),這可能還使高空間分辨率成像精細(xì)活細(xì)胞成為可能! 相關(guān)鏈接:https://doi.org/doi:10.1364/OPTICA.498619 |
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