《光學功能薄膜 微結(jié)構(gòu)厚度測試方法》正式實施
由中國航天科技集團有限公司中國樂凱研究院起草的國家標準GB/T 42674-2023《光學功能薄膜 微結(jié)構(gòu)厚度測試方法》正式實施。
 近日，由中國航天科技集團有限公司中國樂凱研究院起草的國家標準GB/T 42674-2023《光學功能薄膜 微結(jié)構(gòu)厚度測試方法》正式實施。 該標準規(guī)定了通過掃描電子顯微鏡（SEM）檢測光學功能薄膜橫截面微結(jié)構(gòu)厚度的方法，適用于微米、納米級光學功能薄膜各功能層微觀結(jié)構(gòu)測試。 這是我國首個覆蓋光學功能薄膜全領域的微米-納米級各功能層微觀結(jié)構(gòu)的測試標準。該標準的制定與實施，對于準確測定光學功能薄膜微結(jié)構(gòu)厚度、規(guī)范行業(yè)測定方法、促進行業(yè)發(fā)展具有重要意義。 |
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