第16屆光學(xué)檢測高級(jí)培訓(xùn)班 

一、基本概況

培訓(xùn)名稱：第16屆光學(xué)檢測高級(jí)培訓(xùn)班（上海）

培訓(xùn)時(shí)間：2024年11月3日-11月8日（3日報(bào)到）

培訓(xùn)地點(diǎn)：上海光學(xué)精密機(jī)械研究所（嘉定區(qū)清河路390號(hào)）

培訓(xùn)方式：線下授課，現(xiàn)場答疑

二、授課專家

沙定國，教  授，北京理工大學(xué)

林家明，教  授，北京理工大學(xué)

趙維謙，教  授，北京理工大學(xué)

陳  磊，研究員，南京理工大學(xué)

馬  臻，研究員，西安光機(jī)所

沈衛(wèi)星，高  工，上海光機(jī)所

（邀請專家名錄持續(xù)更新中）

三、授課大綱

（一）光學(xué)物理基礎(chǔ)知識(shí)和光學(xué)計(jì)量檢測基礎(chǔ)知識(shí)

1.物理光學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)點(diǎn)

2.光學(xué)計(jì)量檢測基礎(chǔ)知識(shí)

3.光學(xué)檢測與校準(zhǔn)能力

（二）光學(xué)成像系統(tǒng)性能檢測與評(píng)價(jià)

1.星點(diǎn)像檢驗(yàn)

2.分辨率測試

3.波像差檢測

4.光學(xué)調(diào)制傳遞函數(shù)測量

5.透過率、雜光及照度分布檢測

6.光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)性能綜合評(píng)測

7.檢校光學(xué)成像等儀器若干診斷分析舉例

（三）光干涉技術(shù)檢測技術(shù)及應(yīng)用

1.干涉測量基礎(chǔ)

（1）光干涉測量基礎(chǔ)知識(shí)

①　光干涉測量簡介

②　不同的干涉測試技術(shù)

③　干涉圖處理方法

（2）典型干涉儀

①　平面干涉儀

②　球面干涉儀

（3）干涉儀的應(yīng)用

①　非球面與自由曲面檢驗(yàn)

（4）波前的干涉測量方法

2.動(dòng)態(tài)干涉測量技術(shù)

（1）概述

（2）環(huán)境影響及抑制

（3）單幀干涉圖處理技術(shù)

（4）動(dòng)態(tài)干涉儀

（5）應(yīng)用實(shí)例

3.非球面檢驗(yàn)

（1）非球面概述

（2）非球面的非相干法檢驗(yàn)

（3）非球面的干涉法檢驗(yàn)

4.干涉測量常見問題討論

（1）干涉儀原理相關(guān)問題

（2）干涉儀測試功能、指標(biāo)

（3）干涉儀的使用注意事項(xiàng)

（4）干涉測量應(yīng)用舉例

（四）激光共焦顯微技術(shù)及其應(yīng)用

1.共焦顯微技術(shù)概述

2.共焦顯微技術(shù)特點(diǎn)

3.典型共焦顯微鏡及傳感器

4.共焦顯微技術(shù)應(yīng)用及推動(dòng)行業(yè)發(fā)展

5.共焦顯微技術(shù)與其他學(xué)科的交叉

6.其他形式的共焦顯微技術(shù)

7.激光共焦顯微技術(shù)的未來與發(fā)展

（五）激光差動(dòng)共焦成像/檢測新技術(shù)及應(yīng)用

1.差動(dòng)共焦顯微成像技術(shù)

2.差動(dòng)共焦干涉測量技術(shù)

3.差動(dòng)共焦多譜聯(lián)用技術(shù)

（六）特種光學(xué)元件檢測技術(shù)

1.大口徑面形檢測技術(shù)

2.超長曲率半徑/透鏡焦距檢測技術(shù)

3.強(qiáng)場激光元件檢測技術(shù)

4.微型光學(xué)元件檢測技術(shù)

5.衍射光學(xué)元件參數(shù)檢測技術(shù)

6.自聚焦透鏡參數(shù)檢測技術(shù)

（七）光學(xué)元件表面粗糙度、缺陷與疵病檢測技術(shù)

1.基本概念的正確理解和使用

2.表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)

3.表面粗糙度的概念和定義

4.表面粗糙度的測量

5.表面疵病的測量

6.ISO10110/GB等光學(xué)元件技術(shù)要求及檢測標(biāo)準(zhǔn)

（八）激光納米測長技術(shù)實(shí)現(xiàn)光學(xué)角規(guī)的高精度測試傳遞溯源與光學(xué)工程應(yīng)用實(shí)例

（九）專題：雜光測試

（授課內(nèi)容持續(xù)更新中）