摘要:用實(shí)驗(yàn)方法研究紫外曝光對(duì)液晶顯示器功耗電流的大小及分布的影響。 UoLvc~n7
關(guān)鍵詞:紫外曝光; 功耗電流 ` ~bnshUk
中圖分類號(hào): TN141. 9 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:B %b
H1We
1 前言 [a&|c%h
在工業(yè)化生產(chǎn)中,液晶顯示器(LCD) 大多采用紫外光(UV) 固化膠封口和裝腳固定。當(dāng) yX:*TK4
UV照射時(shí),除使UV膠固化外,往往會(huì)使LCD 功耗電流變大,甚至引起局部功耗電流嚴(yán)重變 Fnnk }I}
大, 產(chǎn)生局部顯示發(fā)朦。具體表現(xiàn)為封口處顯示不黑(正型模式下) 或顯示不白(負(fù)型模式 pL {h1^O}
下) ,尤其在測(cè)試電壓較低時(shí)更為嚴(yán)重。為了了解UV曝光對(duì)LCD 功耗電流大小及分布的影 ]&')# YO
響,以便在生產(chǎn)中合理控制UV曝光工藝,改善LCD 的性能,我們進(jìn)行了一系列實(shí)驗(yàn)。
