散射特性用來(lái)描述入射雜散光在光機(jī)件表面上如何傳播和擴(kuò)散，是進(jìn)行精確雜散光仿真分析的基礎(chǔ)。如果表面散射模型描述不準(zhǔn)確，則雜散光在光學(xué)系統(tǒng)中的傳播路徑與實(shí)際存在一定甚至很大的偏差，從而導(dǎo)致分析結(jié)果準(zhǔn)確性和可靠性不高。因此，需要實(shí)測(cè)樣片的散射特性以滿足高精度雜散光分析需求。 _qXa=|}V.  
該散射特性測(cè)量?jī)x具有角度分辨率高，測(cè)試靈敏度高，測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍大等特點(diǎn)，其主要技術(shù)指標(biāo)為： <3okiV=ox  
u  可測(cè)波長(zhǎng)：405/532/640nm； =Gk/k}1  
u  測(cè)量精度：優(yōu)于0.2%； wnLi2k/Dt<  
u  重復(fù)性精度：優(yōu)于0.1%； oU6y4y
O  
u  角度精度：優(yōu)于0.1°； wsU V;S*X%  
u  動(dòng)態(tài)范圍：˃1013； xI*#(!x"G  
u  等效噪聲BSDF：˂10-8 sr-1。 wJ<Oo@snm  
ALBATROSS-TT散射特性測(cè)量?jī)x主要用于光學(xué)系統(tǒng)光機(jī)件表面散射特性測(cè)量，包括雙向反射分布函數(shù)（BRDF）、雙向透射分布函數(shù)（BTDF）和半球空間積分散射TIS測(cè)量。還可用于光學(xué)元件表面的反射率和透過(guò)率測(cè)量（絕對(duì)測(cè)量）。 TBrGA E