傳統(tǒng)意義上，Essential
Macleod的設(shè)計(jì)是由一系列完全干涉的
薄膜組成，并只在基板的一側(cè)形成膜層。而Stack是由一組膜層和基板組成，基板的兩個(gè)面是平行的，以便在相同
材料中傳播角度相同。Stack中，膜層被介質(zhì)（或基底）分開，介質(zhì)（或基底）由其材料和厚度定義。入射介質(zhì)和出射介質(zhì)是半無限的，但其它介質(zhì)的厚度都是有限的。另一方面，膜層是繼續(xù)支持完全一致性，即完全干涉。這通常是真實(shí)膜層和基底的情況，即考慮基板后表面反射或者
鍍膜的情況。
y Xx62J =7fh1XnW 為什么介質(zhì)或基板不支持干涉？這是一個(gè)
系統(tǒng)問題�；宓暮穸韧ǔＲ院撩锥皇�
納米來測(cè)量，因此路徑差異非常長(zhǎng)。入射角、
波長(zhǎng)和厚度的微小變化，雖然對(duì)路徑差異的比例效應(yīng)很小，但對(duì)它們所代表的相位變化有很大影響，因?yàn)樵S多波長(zhǎng)都涉及到這些路徑差異。當(dāng)各種
光線組合在一起時(shí)，干涉條紋會(huì)被沖掉，只留下總的輻照度。在單個(gè)設(shè)計(jì)文檔時(shí)，我們總是假設(shè)使用完全準(zhǔn)直的單色光，其中入射角和波長(zhǎng)變化的相應(yīng)影響通常很小，可以忽略不計(jì)，從而在設(shè)計(jì)中存在完全相干效應(yīng)。
_ kN% 6~+U I;-5]/, sVd_O[ 圖1.基板足夠厚時(shí)，無需考慮干涉效應(yīng)。如果考慮基板的干涉，要將基板看成一層薄膜，而整個(gè)系統(tǒng)看作一個(gè)膜系
r5!M;hU1j 另一個(gè)問題是，如果角度或波長(zhǎng)的變化仍然較大，即使設(shè)計(jì)中的層也顯示出減少的干涉效應(yīng)，那么會(huì)發(fā)生什么，什么叫做部分相干？此工具存在于Stack文檔中。計(jì)算
參數(shù)包括光中缺少準(zhǔn)直性（以圓錐半角表示）和缺少單色性（以
光譜帶寬表示）的影響。這些在Design文檔中不可用（除非在Stack中設(shè)置，稍后將介紹）。
`YNC_r#tG X&.$/xaT Stack中的第一列是標(biāo)題為Medium Type，這里有兩種選擇：Parallel以及Wedge。透射或反射的光將由某種接收器收集，這種接收器在計(jì)算中假定為均勻靈敏度。此接收器可能無法收集在不同表面之間來回反射后最終出現(xiàn)的所有光束。兩種極端情況是收集所有光束，以便沒有丟失，這種情況稱為Parallel。 另一個(gè)極端是它只收集從離它最近的表面反射一次的光束，這種情況被稱為Wedged。假設(shè)所有其他反射光束走出系統(tǒng)，在傳輸中，那么Wedge不收集反射光束。如果我們有
成像系統(tǒng)，Wedge計(jì)算代表形成的像，而Parallel計(jì)算代表所有可能的光。因此，它們之間的差異是雜散光。
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