摘要 )$2h:dw_  
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干涉測量是一種光學(xué)計量的重要技術(shù)。 它被廣泛應(yīng)用于表面輪廓，缺陷，機(jī)械和高精度熱變形等領(lǐng)域的測量。 作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學(xué)元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 AIA4c"w.EO  
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建模任務(wù) {UhpN"'"n  
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元件傾斜引起的干涉條紋
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