電磁注入檢測(cè)
在芯片正確執(zhí)行密碼運(yùn)算過(guò)程中,定位被測(cè)芯片程序運(yùn)行的某一特定時(shí)刻,注入合適能量的電磁脈沖,使芯片的運(yùn)行產(chǎn)生非預(yù)期錯(cuò)誤,并分析這些獲取到的非預(yù)期錯(cuò)誤是否會(huì)造成芯片中敏感信息的泄露。
服務(wù)內(nèi)容:1.電磁操縱 2.差分錯(cuò)誤分析 |
電磁注入檢測(cè)
在芯片正確執(zhí)行密碼運(yùn)算過(guò)程中,定位被測(cè)芯片程序運(yùn)行的某一特定時(shí)刻,注入合適能量的電磁脈沖,使芯片的運(yùn)行產(chǎn)生非預(yù)期錯(cuò)誤,并分析這些獲取到的非預(yù)期錯(cuò)誤是否會(huì)造成芯片中敏感信息的泄露。
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