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芯片開封Decap

發(fā)布:探針臺 2019-07-31 16:49 閱讀:1493
項目簡介:開封(Decap ),又名開窗,開帽,是一種針對封裝產品用酸將Chip芯片上的封裝塑膠去除,讓Chip芯片裸露出來的方法,流程包括樣品準備,機器預熱,化學酸蝕,清洗,最后提供芯片表面外觀圖片 等數(shù)據(jù)。儀準科技擁有化學自動開封及激光開封設備,有齊全的開封附件,為金線、銅線、鋁線等各類封裝提供專業(yè)的開封服務 L.JT[zOfb  
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主要用途:封裝產品進行開封,使chip芯片裸露出來,方便后續(xù)分析(觀察芯片表面、做EMMI、做去層、探針做電信號測量等)。 aK^q_ghh[  
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測試標準 -zfR)(zG  
GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 ;9QEK]@  
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服務范圍 @f3E`8  
電子元器件(PLCC,QFP,QFN,COB……) YPI-<vM~  
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