芯片開封Decap
項目簡介:開封(Decap ),又名開窗,開帽,是一種針對封裝產品用酸將Chip芯片上的封裝塑膠去除,讓Chip芯片裸露出來的方法,流程包括樣品準備,機器預熱,化學酸蝕,清洗,最后提供芯片表面外觀圖片 等數(shù)據(jù)。儀準科技擁有化學自動開封及激光開封設備,有齊全的開封附件,為金線、銅線、鋁線等各類封裝提供專業(yè)的開封服務
主要用途:封裝產品進行開封,使chip芯片裸露出來,方便后續(xù)分析(觀察芯片表面、做EMMI、做去層、探針做電信號測量等)。 測試標準 GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 服務范圍 電子元器件(PLCC,QFP,QFN,COB……) |