科技回報(bào)社會，為感謝社會各界對我中心的支持和信任，現(xiàn)回報(bào)一個(gè)月的免費(fèi)FIB測試。 +InFv"wt  
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FIB是什么？ l`*R !\  
FIB中文名稱聚焦離子束，英文名Focused Ion beam。是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號取得電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強(qiáng)電流離子束對表面原子進(jìn)行剝離，以完成微、納米級表面形貌加工。 $(pVE}J  
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FIB能做什么事？ qLm g18  
FIB是微納米分析測試的重要方式，主用應(yīng)用領(lǐng)域有： [L>AU; :  
1. IC芯片電路修改 ngH_p>  
2. Cross-Section 截面分析 2Xp?O+b#"O  
3. Probing Pad CNyV6
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4. FIB透射電鏡樣品制備 s!/Q>A  
5. 材料鑒定 -@`!p  
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免費(fèi)FIB招募范圍： o,=dm@j  
1. 境內(nèi)外企事業(yè)單位，團(tuán)體，個(gè)人均可報(bào)名參加。 Tw
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2. 鋁制程樣品線路修改，切線連線（銅制程樣品本次不接收）。 mbO.Kyfen  
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免費(fèi)FIB招募要求： UQ+!P<>w   
1. 方案完整，清晰，明確。 oF(|NS^  
2. 每個(gè)方案多加一兩顆備片。 E%\Ohs7  
3. 用戶收到測試好樣品后，兩個(gè)工作日內(nèi)測試樣品功能，郵件反饋測試效果。 rFYw6&;vOi  
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