摘要
Bkg./iP5x )<$<9!L4x 高
數(shù)值孔徑的
物鏡廣泛用于光刻、顯微等方面。 因此,在
仿真聚焦時考慮光的矢量性質(zhì)是至關(guān)重要的。
VirtualLab可以支持此類
透鏡的
光線和場追跡分析。通過場追跡分析,可以清楚地顯示出由于矢量效應(yīng)引起的非對稱焦點。
相機探測器和電磁場探測器可以方便地研究聚焦區(qū)域的場,也可以深入研究矢量效應(yīng)。
*xN?5u% |Yv,zEY) @O|`r(le I%{ 1K+V/ 建模任務(wù)
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@ V_i%=go rP#&WSLVj 概述
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