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摘要 \x8'K cy2K# 斐索干涉儀是工業(yè)中常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 /}d)g4\j ,x[~|J! m^tf=O< [zCKJR 建模任務(wù) QbWeQ[V{ (~PT(B? ~Hb0)M@y7 PnI_W84z 傾斜平面下的觀測(cè)條紋 p%\&M bA GgvMd~ R?2T0^0 OeQ~g-n 圓柱面下的觀測(cè)條紋 qvJQbo[.9P y]ya.YG HJe6h. P ,!^;<UR: 球面下的觀測(cè)條紋 S'IQbHz*
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