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EMMI測(cè)試

發(fā)布:探針臺(tái) 2020-03-24 16:37 閱讀:1728
EMMI(微光顯微鏡 {ZJO5*  
對(duì)于失效分析而言,微光顯微鏡是一種相當(dāng)有用,且效率極高的分析工具,主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC原件中,EHP Recombination會(huì)放出光子,例如:在PN Junction加偏壓,此時(shí)N的電子很容易擴(kuò)散到P, 而P的空穴也容易擴(kuò)散至N,然后與P端的空穴做EHP Recombination。 K$CC ~,D  
偵測(cè)到亮點(diǎn)之情況 Y[