設(shè)計過程中，需要對利用TracePro仿真，然后給機(jī)械組進(jìn)行光機(jī)設(shè)計。完成光機(jī)設(shè)計以后需要再次仿真光學(xué)特性，如果系統(tǒng)很復(fù)雜，這個過程可能重復(fù)好幾次，但每次都需要對相同的面屬性進(jìn)行設(shè)置，并且元件多了以后有的屬性很容易漏設(shè)或者錯設(shè)，有沒有什么方法可以在TracePro中實現(xiàn)一鍵設(shè)置屬性，同時檢查是否存在設(shè)置錯誤。不然每次都需要單獨(dú)重復(fù)設(shè)置，感覺效率很低，希望有經(jīng)驗的前輩可以給些建議，謝謝！