近期，中國科學院上海微系統(tǒng)與信息技術研究所信息功能材料國家重點實驗室在Ⅳ族GeSn納米線生長制備及其光電探測應用中取得進展，相關工作以Ferroelectric Enhanced Performance of a GeSn/Ge Dual-Nanowire Photodetector 為題發(fā)表在Nano Letters 期刊上 (Nano Lett. 2020, 20, 5, 3872–3879)。 .BZw7 YV  
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Ⅲ-Ⅴ族材料普遍具有優(yōu)良的光電特性，但卻面臨著與Si基CMOS工藝不兼容等問題，因此有必要發(fā)掘Ⅳ族材料的光電應用潛力。此前已有基于GeSn薄膜結構的光電探測等工作的相關報道，但是GeSn薄膜與Ge緩沖層之間較大的晶格失配嚴重影響了GeSn薄膜晶體質(zhì)量，從而導致其相應的光電探測器暗電流較大，不利于實現(xiàn)低功耗應用需求。 % `\8z  
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上海微系統(tǒng)所研究人員利用分子束外延技術，成功制備出大面積、高密度且高長寬比的Ge納米線，并利用其作為模板，通過二次沉積法獲得了Sn組分可達~10%的GeSn/Ge雙層納米線結構。由于納米線具有柔性且極高的比表面積，能夠通過彈性形變的方式自主弛豫釋放GeSn/Ge之間晶格失配引入的應力，從而有效抑制GeSn/Ge界面處的缺陷形成。由于GeSn具有較窄的禁帶寬度，因此基于GeSn/Ge雙層納米線的光電探測器件比Ge納米線光電探測器具有更長的探測波長，延伸到2 μm以上。為了抑制窄禁帶寬度GeSn引起的暗電流增加，研究人員進一步引入具有鐵電性的P(VDF-TrFE)離子膠作為柵介質(zhì)，通過側柵調(diào)控大幅降低了GeSn/Ge雙層納米線光電探測器的暗電流與靜態(tài)功耗，從而實現(xiàn)了兼具長波長與低暗電流的光電探測，對于拓展Ⅳ族材料納米線結構在光電探測領域的研究與應用具有重要參考意義。 Q']:k}y  
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