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    [推薦]使用干涉儀的光學測量 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-08-04
    光學計量學是精確測量的重要技術。例如,它經常被用于表面測試,因此在質量控制中發(fā)揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進行建模,并將不同的光學表面和系統(tǒng)部件、甚至是傾斜和位移等對準錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。 j_I[k8z  
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    Mach-Zehnder干涉儀 ^VC /tJ  
    "Jahc.I  
    我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀,并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。 q t(+X  
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    用于光學檢測的Fizeau干涉儀 }_/]f!]  
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    在非序列場追跡技術的幫助下,建立了一個Fizeau干涉儀,并顯示了幾個不同測試面的干涉條紋。 }SfS\b{|~  
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    QQ:2987619807 OV G|WC  
     
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