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摘要
B]ul~FX BWFl8
!_X 干涉法是光學(xué)測量的重要手段。廣泛用于測量例如,表面輪廓,缺損,高精度機(jī)械和熱畸變。作為經(jīng)典案例,我們在VirtualLab中搭建一個相干激光光源的馬赫-澤德干涉儀,并且演示傾斜和平移光學(xué)元件會如何影響干涉圖樣。 \xkLI:*\ KGxF3xS*7 `* "u"7e vC E$)z'" 模擬任務(wù) EXH{3E54)` %P0dY:L~ {/uBZ( n5l39lll]V@ 結(jié)果 0{F"b'h e
&^BPzg m8n!<_NFt( C$){H"# 結(jié)果 #x1AZwC g9}u6q *yKsgH N~{0QewMI' 文檔信息 /%po@Pm#I `!S5FE"- 7{RI`Er` tPP
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