-
UID:317649
-
- 注冊時(shí)間2020-06-19
- 最后登錄2025-02-21
- 在線時(shí)間1734小時(shí)
-
-
訪問TA的空間加好友用道具
|
摘要 4kiu*T -oj@ c
OZ 掃描干涉法是實(shí)現(xiàn)表面高度測量的技術(shù)。通過利用白色光源的低相干性,只有當(dāng)光程差在相干長度內(nèi),干涉圖案才會出現(xiàn)。因此,它使精確微觀測量成為可能。使用一個(gè)氙燈搭建了一個(gè)邁克耳孫干涉儀,用于測量具有平滑變化前表面的樣品。 4Bz~_ OA;L^d
Kfh"XpWc$ 4{TUoI6ii 建模任務(wù) qlu
|