基于單分子定位的超高分辨率顯微成像技術(shù)（例如PALM、STORM、directSTORM等）已達(dá)10 nm左右的光學(xué)分辨率。然而，要獲得超高分辨率圖像，需要較長(zhǎng)的采集時(shí)間（1-30分鐘），而樣品漂移（通常1 nm/s）會(huì)對(duì)此產(chǎn)生影響。目前，加入外源標(biāo)準(zhǔn)參照物（熒光小球、金屬納米顆粒等），引入基于額外近紅外監(jiān)測(cè)軸向焦平面變化的商用漂移校正系統(tǒng)，或使用基于互相關(guān)方法的圖像后處理算法等策略，已被應(yīng)用于樣品漂移校正。但是，外源物的引入及光漂白效應(yīng)等導(dǎo)致三維尺度漂移校正的精度不佳。