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一個(gè)膜系的吸收率是一個(gè)可以計(jì)算的參數(shù)，它能與反射率和透射率一起作為二維和三維圖的可選參數(shù)列出。此外，還有兩個(gè)工具可以處理吸收率，它們隱藏在設(shè)計(jì)分析部分，即Absorptance Rate和Total Absorptance。這兩個(gè)工具到底是做什么的？ L<=Dl
Szt2 "AR 吸收率是一種測量膜層損失能量的方法。嚴(yán)格地說，它應(yīng)該是轉(zhuǎn)化成熱量的東西，但通常只把它作為反射光和透射光中所缺少的東西的一種度量。因?yàn)榕c真正的吸收相比，大多數(shù)其他的損耗通常都很小，而且由于它們和吸收一樣，與電場振幅的平方成正比，所以任何差別都很小。不管怎樣，大多數(shù)工程師都喜歡對總損失進(jìn)行衡量。對于Essential Macleod而言，薄膜材料的消光系數(shù)就是與吸收相關(guān)的參數(shù)。它所代表的損失取決于它的測量方法。因此我們寫了一個(gè)光學(xué)薄膜 AjEy@ /
&=)O:Jfa 1=R+T+A (1) l9uocP:D
如果結(jié)果以百分比表示，則左側(cè)變?yōu)?00。這就是設(shè)計(jì)吸收率的計(jì)算方法。 4Lg
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I\_2=mL 現(xiàn)在讓我們考慮一層厚度為dt的薄層埋在膜層內(nèi)。每單位面積薄層中的功率損失將是凈入射輻照度（Ienter）和凈出射輻照度（Iexit）之間的差值。這可以通過各種方式進(jìn)行操作。 99*k&m b
py\:u5QS 將入射到整個(gè)涂層上的輻射強(qiáng)度設(shè)為Iincidence，薄片的吸收率為dA，勢吸收率為da。則 `,SL\\%u
T5T%[Gv  （2）  （3）
N4,oO H~ 圖1顯示了使用具有無吸收低折射率材料（SiO2）和輕微吸收的高折射率材料（TiO2）薄膜的窄帶濾光片的一些結(jié)果。電場分布的平方很好地解釋了吸收率變化。勢吸收率幾乎相同，因?yàn)榉瓷渎蕿榱�，但膜層前面部分的吸收降低了墳�(zāi)股系腎enter的值，因此膜層后部的吸收率逐漸增加。 LQ
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