我國(guó)科研團(tuán)隊(duì)在金屬納米顆粒晶體管研究中取得進(jìn)展
電荷輸運(yùn)機(jī)制的研究是設(shè)計(jì)與構(gòu)筑新型納米電子器件的基礎(chǔ)。和半導(dǎo)體器件中的電子信號(hào)不同,生命體內(nèi)信息的處理往往基于復(fù)雜的離子和電子同時(shí)參與的物質(zhì)輸運(yùn)過(guò)程。因此,揭示離子電荷與電子電荷耦合輸運(yùn)的基本規(guī)律,通過(guò)人工操控兩種電荷之間的相互作用與輸運(yùn)過(guò)程以構(gòu)筑納米電子器件具有重要的科學(xué)意義、創(chuàng)新性與應(yīng)用價(jià)值。
在前期研究中,國(guó)家納米科學(xué)中心納米系統(tǒng)與多級(jí)次制造重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室研究員鄢勇團(tuán)隊(duì)采用帶電金屬納米顆粒,結(jié)合器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)創(chuàng)新,通過(guò)控制納米顆粒薄膜內(nèi)的離子與電子電荷的濃度梯度分布,實(shí)現(xiàn)了類(lèi)傳統(tǒng)半導(dǎo)體pn結(jié)的雙層結(jié)構(gòu)金屬納米顆粒二極管(Nature Nanotechnology, 2016, 11, 603-608, Cover art)以及具有不對(duì)電極的單層結(jié)構(gòu)金屬納米顆粒整流器件的成功構(gòu)筑(Science Advances, 2018, 4, eaau3546)。 近期,鄢勇團(tuán)隊(duì)與西北工業(yè)大學(xué)教授李鐵虎、韓國(guó)蔚山科技大學(xué)(UNIST)教授Bartosz Grzybowski等科研人員合作,通過(guò)進(jìn)一步創(chuàng)新器件結(jié)構(gòu),設(shè)計(jì)并構(gòu)筑出一種五電極結(jié)構(gòu)的金屬納米顆粒薄膜晶體管。五電極結(jié)構(gòu)中三個(gè)門(mén)電極高度對(duì)稱(chēng)以降低漏電流,采用碳材料電極以實(shí)現(xiàn)顯著的電荷濃度梯度分布。晶體管的輸出曲線與轉(zhuǎn)移曲線表明,門(mén)電壓可有效調(diào)制源漏電極之間的輸出,但這種調(diào)制現(xiàn)象在不帶電的納米顆粒薄膜中未觀測(cè)到。同時(shí),器件的性能可通過(guò)降低溝道尺寸得到優(yōu)化,在65 μm線寬下,晶體管的開(kāi)關(guān)比達(dá)到400左右。此外,研究人員通過(guò)監(jiān)測(cè)可遷移的對(duì)離子的濃度分布(EDS)與納米顆粒薄膜的表面電勢(shì)(KFM),結(jié)合理論模擬(能斯特-普朗克方程與泊松方程),重現(xiàn)了所有的實(shí)驗(yàn)結(jié)果;谠摼w管可構(gòu)筑非門(mén),結(jié)合納米顆粒二極管與電阻,實(shí)現(xiàn)了與門(mén)、或門(mén)、與非門(mén)以及或非門(mén)等基本邏輯,集成實(shí)現(xiàn)了全金屬納米顆粒半加器的邏輯輸出。需要指出的是,有別于半導(dǎo)體晶體管,金屬納米顆粒器件能夠抵抗高電壓靜電(10 kV)的損傷。 左圖:金屬納米顆粒晶體管示意圖;右圖:全金屬納米顆粒半加器 相關(guān)研究成果以Transistors and logic circuits based on metal nanoparticles and ionic gradients為題,發(fā)表在Nature Electronics(DOI: 10.1038/s41928-020-00527-z)上。研究工作得到中國(guó)科學(xué)院戰(zhàn)略性先導(dǎo)科技專(zhuān)項(xiàng)(B類(lèi))、國(guó)家自然科學(xué)基金、中科院高層次人才計(jì)劃等項(xiàng)目的支持。 |