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摘要 BtPUUy.
2s+ITPr 掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。 ?1+JBl~/d &zGf`Zi6*%
Rh=,]Y ;w\7p a 建模任務 _ct18nh9 jbDap i< ?1DA 仿真干涉條紋 1;e"3x" fV 6$YCf s8/sH]; 走進VirtualLab Fusion f{} zqCK {iz,iv/U u]D>O$_ s \R m2c8Z2 VirtualLab Fusion中的工作流程 [<2#C#P:6 Awip qDAu •設置輸入場 H[cHF −基本光源模型[教程視頻] M;14s*g •使用導入的數(shù)據(jù)自定義表面輪廓 mKsTA; •定義元件的位置和方向 a!_vd B − LPD II:位置和方向[教程視頻] "*ot:;I •正確設置通道以進行非序列追跡 *%{ −非序列追跡的通道設置[用例] HQpw2bdy •使用參數(shù)運行檢查影響/變化 `|Ll −參數(shù)運行文檔的使用[用例] cz2guUu 0<,Q7onDD: Usa dG}.T_l VirtualLab Fusion技術 |GDf<\ -T
s8y 文件信息 J?Ed^B- Sxj _gn rO_|_nV[ 更多閱覽 B/iRR2h - Laser-Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration
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