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摘要 9OE_?R0c! aa%Yk"V@ 高數(shù)值孔徑的物鏡廣泛用于光刻、顯微等方面。 因此,在仿真聚焦時(shí)考慮光的矢量性質(zhì)是至關(guān)重要的。VirtualLab可以支持此類透鏡的光線和場(chǎng)追跡分析。通過場(chǎng)追跡分析,可以清楚地顯示出由于矢量效應(yīng)引起的非對(duì)稱焦點(diǎn)。相機(jī)探測(cè)器和電磁場(chǎng)探測(cè)器可以方便地研究聚焦區(qū)域的場(chǎng),也可以深入研究矢量效應(yīng)。 T3=-UYx] 46QYXmNQ}
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o 建模任務(wù) H[>klzh6
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xM[vO mBYS"[S( 概述 l:>qR/|m SQz$kIZR •案例系統(tǒng)已預(yù)先設(shè)置了高數(shù)值孔徑物鏡。 'XC&BWJ •接下來,我們演示如何按照VirtualLab中建議的工作流程在示例系統(tǒng)上執(zhí)行仿真。 6)tB{:h&~0 sDz)_;;%
l4R<`b\Jt iKR8^sj7S 光線追跡仿真 oyi7YRvwd NgDZ4&L •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”作為模擬引擎。 f(w#LuW< •單擊go! /6Jy'"+'0 •獲得了3D光線追跡結(jié)果。 eSQzjR* vV$hGS(f~
!W+p<F1i '<*CD_2t- 光線追跡仿真 j\jL[hG_ h^.tomg8 •然后,選擇“光線追跡”作為模擬引擎。 2[&-y[1 •單擊go! ZFuJ2 : •結(jié)果得到點(diǎn)圖(二維光線追跡結(jié)果)。 3pv1L~ ZI YB3=ij!K
M@X#[w: t{s*3k/ 場(chǎng)追跡仿真 *^+xcG ,Ve@=< •切換到場(chǎng)追跡,然后選擇“第二代場(chǎng)追跡”作為模擬引擎。 0:+uw`
% •單擊go! :;WDPRx Y9L6W+=T r4ttEJ-jG Ahbu >LPk 場(chǎng)追跡仿真(相機(jī)探測(cè)器) L.:QI<n 5_C#_=E •上圖僅顯示Ex和Ey場(chǎng)分量積分的強(qiáng)度。 sfPN\^k2 •下圖顯示Ex、Ey和Ez分量積分的強(qiáng)度:由于在高數(shù)值孔徑情況下Ez分量相對(duì)較大,因此可見明顯的不對(duì)稱性。 / lM~K: :QL p`s
M*6@1.n 3X,{9+(F 場(chǎng)追跡仿真(電磁場(chǎng)探測(cè)器) [=F
|^KL •使用電磁場(chǎng)探測(cè)器可獲得所有電磁場(chǎng)分量。 "s<lLgi ~[y+B0I3 `srZ#F5 |B$\3, 場(chǎng)追跡仿真(電磁場(chǎng)探測(cè)器) DMN H?6 }/r%~cZ •使用電磁場(chǎng)探測(cè)器可獲得所有電磁場(chǎng)分量。 'R'a/ZR`B7 gbf=H8]
=?Md&%j 3(*s|V" 文件信息 K/+C6Y? hBE>e
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