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摘要 }@Ij}Ab> uoYG@L2 VirtualLab可以通過(guò)用戶友好的界面指定漸變折射率透鏡。這種折射率調(diào)制透鏡可以通過(guò)光線追跡和場(chǎng)追跡進(jìn)行分析。通過(guò)本示例,我們將展示在VirtualLab中如何輕松的配置漸變折射率透鏡以及示范利用不同的傳輸引擎的仿真結(jié)果。為了展示該技術(shù),利用了一個(gè)簡(jiǎn)單的系統(tǒng)。系統(tǒng)由1個(gè)入射球面波、一個(gè)漸變折射率透鏡以及1個(gè)探測(cè)器組成,其中探測(cè)器用來(lái)顯示聚焦位置和緊貼透鏡后表面位置處的電磁場(chǎng)分量。 YK/?~p9: =h?WT*
WHQg6r ca@0?q# 1. 建模任務(wù) *.0}3 如何構(gòu)建漸變折射率透鏡。 r^mP'# 如何使用光線和場(chǎng)追跡對(duì)其進(jìn)行分析。 u%<Je \ %Er%yv) NKD<VMcqw LMf_wsp 2. 漸變折射率透鏡的構(gòu)建 G};os+FxF CA)DQYp{
a$p?r3y nc#}-}`5 3. GRIN透鏡:漸變折射率介質(zhì) 8<Cu S lCBb0k2 D.zEE-cGyb
5w)tsGX\ +1R?R9^Fw 4. 系統(tǒng)設(shè)置:探測(cè)器與連接 _jOu`1w 探測(cè)器配置: UI}v{05] - 使用Electromagnetic Field Detector探測(cè)圖像信息。
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