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摘要 ><t4 f(d SauX C $,@PY5r 楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動(dòng)特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個(gè)量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫,在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個(gè)著名的實(shí)驗(yàn)。 G+?Z=A:T8 使用一個(gè)單點(diǎn)光源,我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對干涉的影響;在擴(kuò)展光源的情況下,我們觀察到干涉對比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。 y\?T%g *H2@lrc Fv| )[>z0 任務(wù)描述-單個(gè)軸上點(diǎn)光源 YadG05PDe @%aU)YDwi uWtj?Q+M| 固定狹縫距離(500μm)和變化的狹縫寬度 &nKb<o | e?:Uq jpGZ&L7i& 固定狹縫寬度(100μm)和變化的狹縫距離 *n"{]
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