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請問FRED這套軟件針對一般光源側(cè)入光式的背光模塊是否可以詳細仿真光源透過LGP上面油墨印刷后的光源軌跡(整個面的光均勻度)?LGP上會印刷光學級油墨點(Pattern),我們會控制Pattern直徑的大小,來控制整個背光模塊的均勻性,是否有側(cè)入光式的范例(LGP Pattern 光學仿真軌跡)? &a!MT^anA~ e]*@|e4b Ans:可以,光學仿真軟件-FRED可以進行側(cè)入光式的背光模塊仿真分析。 ~v6]6+ w&x$RP 如下圖,并且可利用ARRAY的方法快速的布置重復式網(wǎng)點 jK\AVjn vw6DHN)k Dg}$;PK Y2aN<>f 在FRED可以設定散射表面,而油墨本身就是一種散射表面,如下 [w{x+6uX' wY=k$ yrG=2{I ZVz`g] 光線追跡: ;T :]?5W! |_mN:(3 Kh7C7[& 也可以加上BEF片的模擬 %[x
PyqX zALtG<_t Slv91c&md, 模擬結(jié)果 UsgrI>|l oVQbc\P3 bD`h/jYv
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