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    [技術(shù)]馬赫-澤德干涉儀 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2022-06-02
    摘要 EY c)v6[  
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    干涉測(cè)量法是光學(xué)計(jì)量學(xué)的重要技術(shù)。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機(jī)械和熱變形。 作為一個(gè)典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場(chǎng)追跡，構(gòu)建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學(xué)元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 \ NKw,`/  
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    建模任務(wù) ,E@}=x9p  
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    元件傾斜引起的干涉條紋 WD*z..`  
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    元件移動(dòng)引起的干涉條紋 ()n2 KT  
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