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斐索干涉儀是工業(yè)中常見(jiàn)的光學(xué)計(jì)量設(shè)備,它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡,我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀,并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面,例如圓柱形和球形。 可以看出,產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 4n@,
p0 2O5yS PF(P"f.?D prY9SQd 建模任務(wù) t%AW0#TZ /vB%gqJvX lA<IcW YtrMJ" 傾斜平面下的觀測(cè)條紋 d0 tN73( .W&rcqy EF{_-FXY S-h1p` 圓柱面下的觀測(cè)條紋 ca_8S8lv 5aTyM_x
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