-
UID:317649
-
- 注冊時間2020-06-19
- 最后登錄2024-11-15
- 在線時間1524小時
-
-
訪問TA的空間加好友用道具
|
掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性,僅當(dāng)光程長度差在相干長度內(nèi)時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測量表面平滑變化的樣品。 @kvgq 0ab \{AxDk{z# 8
!Pk1P q>/#
P5V 建模任務(wù) JZQkr S(9Xbw)T ?Z0T9e< 仿真干涉條紋 LTj;e[ },KY9w O{
|