光學鏡片加工過程中不可避免會帶有一些面型的誤差——實際的和設(shè)計值總有一點區(qū)別。如何分析這些面型不規(guī)則度誤差對光學性能帶來的影響，我們來整理一些不同的情況。注意，本文只涉及面型不規(guī)則度公差，而不涉及其他的偏心旋轉(zhuǎn)定心等公差因素。 #65^w=Sp}  
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首先我們把面型不規(guī)則都分為空間頻率的中低頻和高頻，對于高頻面型誤差，不規(guī)則的尺度明顯小于波長（往往是表面劃傷帶來的），這種情況下實在沒有什么太好的方式來精細地模擬光線行為。原則上這種尺度下幾何光學已經(jīng)不適用，而物理光學的計算量不可接受。我們可以把高頻面型誤差帶來的行為統(tǒng)一用表面散射來表征，或者有時候直接認為光線丟失。至于用哪種散射模型，散射程度如何，則可以通過實測來搞定。 +gd2|`#  
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為了規(guī)范說明什么是中低頻或者高頻面型不規(guī)則度，我們得引入一個重要的概念PSD（Power Spectral Density，功率譜密度），它本質(zhì)上是把面型數(shù)據(jù)進行傅里葉變換，并繪制出頻域譜，有點像成像光學里的MTF，PSD是對面型上不同頻率“強度分布”的描述。 J@pb[O