光學(xué)鏡片加工過程中不可避免會(huì)帶有一些面型的誤差——實(shí)際的和設(shè)計(jì)值總有一點(diǎn)區(qū)別。如何分析這些面型不規(guī)則度誤差對(duì)光學(xué)性能帶來的影響，我們來整理一些不同的情況。注意，本文只涉及面型不規(guī)則度公差，而不涉及其他的偏心旋轉(zhuǎn)定心等公差因素。 U>OAtiq JX  
&>B"/z  
首先我們把面型不規(guī)則都分為空間頻率的中低頻和高頻，對(duì)于高頻面型誤差，不規(guī)則的尺度明顯小于波長（往往是表面劃傷帶來的），這種情況下實(shí)在沒有什么太好的方式來精細(xì)地模擬光線行為。原則上這種尺度下幾何光學(xué)已經(jīng)不適用，而物理光學(xué)的計(jì)算量不可接受。我們可以把高頻面型誤差帶來的行為統(tǒng)一用表面散射來表征，或者有時(shí)候直接認(rèn)為光線丟失。至于用哪種散射模型，散射程度如何，則可以通過實(shí)測來搞定。 k>\v]&|T`  
:t<