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楊氏干涉實(shí)驗(yàn)是顯示光的波動特質(zhì)的著名實(shí)驗(yàn)之一。這是當(dāng)今幾個量子光學(xué)實(shí)驗(yàn)的基礎(chǔ)。 我們通過使用可調(diào)節(jié)狹縫寬度和狹縫距離的雙狹縫，在VirtualLab Fusion中重現(xiàn)了這個著名的實(shí)驗(yàn)。 gEy?s8_,  
        使用一個單點(diǎn)光源，我們檢查了縫隙寬度和縫隙距離對干涉的影響；在擴(kuò)展光源的情況下，我們觀察到干涉對比度如何隨光源的橫向擴(kuò)展而變化。 N sXHO  
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任務(wù)描述-單個軸上點(diǎn)光源 =l+yA>t|  
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固定狹縫距離（500μm）和變化的狹縫寬度 `sn^ysp  
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固定狹縫寬度（100μm）和變化的狹縫距離 IG2r#N|C#  
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任務(wù)描述-單個離軸點(diǎn)光源 !>FYK}c7  
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