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zeHf(N DFk0"+Ky 衍射式分束器被廣泛用于
光學(xué)應(yīng)用中,以產(chǎn)生規(guī)則和不規(guī)則的圖案。所應(yīng)用的衍射方法允許薄而輕的元件,但也導(dǎo)致它們對(duì)入射
光線的
角度高度敏感。在這個(gè)例子中,我們展示了這種效應(yīng)對(duì)給定微
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的反射式5×5規(guī)則分束器的影響。該設(shè)計(jì)在正入射情況
優(yōu)化,其性能在不同入射角下被評(píng)估,并計(jì)算出相應(yīng)的衍射圖案。之后,針對(duì)不同的入射角對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行了優(yōu)化,例如通過(guò)改變微結(jié)構(gòu)的高度。
Yq$KYB j isG8S(}IW& 建模任務(wù) Z}8khNCYr
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zF)&o} KWq&<X5 微結(jié)構(gòu) kK,Ne%}a2K
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w<9. >8*0"Q 6SJryf~w '4"9f]: 微結(jié)構(gòu)組件的配置 NMM$
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|[ )e5Xhd NrVE[Z# - Microstructure組件由一個(gè)平面組成,在這個(gè)平面上應(yīng)用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。
MJzY| - 在Channel Operator的設(shè)置中,微觀結(jié)構(gòu)是由提到的Complex Surface Response定義的,要么是理想的,要么是包含真實(shí)結(jié)構(gòu)的Stack,也就是高度輪廓。
c SV`?[a - 在這個(gè)用例中,Sampled Grating被用來(lái)描述預(yù)期的高度輪廓,并應(yīng)用在基面的背面。
mB.j?@Y% - 用于通過(guò)堆棧傳播的
精度系數(shù)可以根據(jù)具體任務(wù)進(jìn)行調(diào)整。在這個(gè)例子中,為了對(duì)表面進(jìn)行充分的采樣,使用了一個(gè)2的系數(shù)。
@MoBR. 'o!{YLJ fM 總結(jié)-組件…
MR?5p8S#g -J06H&/k Bh#?:h&f xpO'.xEs {\-9^RL 6w"_sK?
監(jiān)測(cè)器平面上的衍射圖案 !jySID?q
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