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    [技術(shù)]使用干涉儀的光學(xué)測量 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2022-10-31
    ]g8i>,G  
    光學(xué)計(jì)量學(xué)是精確測量的重要技術(shù)。例如,它經(jīng)常被用于表面測試,因此在質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進(jìn)行建模,并將不同的光學(xué)表面和系統(tǒng)部件、甚至是傾斜和位移等對準(zhǔn)錯(cuò)誤都包含在模擬中。我們以兩個(gè)廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進(jìn)行演示。 RLu$$Eb  
        
    Mach-Zehnder干涉儀 e0|_Z])D  
    .X LV:6  
         |?fW!y  
    我們在VirtualLab Fusion中建立了一個(gè)Mach-Zehnder干涉儀,并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。 /:Z~"Q*r  
    用于光學(xué)檢測的Fizeau干涉儀 =UB*xm%!  
    Kixr6\  
         B::4Qme  
    在非序列場追跡技術(shù)的幫助下,建立了一個(gè)Fizeau干涉儀,并顯示了幾個(gè)不同測試面的干涉條紋。 x8pbO[_|  
     
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