mz .uK2l{  
摘要 Gh{vExH@5(  
, @6_sl  
_&F*4t!n_  
p\,PY  
干涉測量法是一項用于光學測量的重要技術。它被廣泛應用于表面輪廓、缺陷、機械和熱變形的高精度測量。作為一個典型示例，在非序列場追跡技術的幫助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-澤德干涉儀。該例證明了光學元件的傾斜和位移對干涉條紋圖的影響。 Ob7F39):N  
     xV5eKV  
建模任務 2ISnWzq;  
j}DG +M  
pd}af iF  
+p)kemJ~  
由于組件傾斜引起的干涉條紋 km!jxs  
'[Ch8
Yf\  
;z^C\=om  
.AHww7  
由于偏移傾斜引起的干涉條紋 I