g Cp`J(2v:  
一個(gè)膜系的吸收率是一個(gè)可以計(jì)算的參數(shù)，它能與反射率和透射率一起作為二維和三維圖的可選參數(shù)列出。此外，還有兩個(gè)工具可以處理吸收率，它們隱藏在設(shè)計(jì)分析部分，即Absorptance Rate和Total Absorptance。這兩個(gè)工具到底是做什么的？ pZ Uy (  
x,: k/]  
吸收率是一種測(cè)量膜層損失能量的方法。嚴(yán)格地說(shuō)，它應(yīng)該是轉(zhuǎn)化成熱量的東西，但通常只把它作為反射光和透射光中所缺少的東西的一種度量。因?yàn)榕c真正的吸收相比，大多數(shù)其他的損耗通常都很小，而且由于它們和吸收一樣，與電場(chǎng)振幅的平方成正比，所以任何差別都很小。不管怎樣，大多數(shù)工程師都喜歡對(duì)總損失進(jìn)行衡量。對(duì)于Essential Macleod而言，薄膜材料的消光系數(shù)就是與吸收相關(guān)的參數(shù)。它所代表的損失取決于它的測(cè)量方法。因此我們寫了一個(gè)光學(xué)薄膜 IlF_g`  
=lv(  
如果結(jié)果以百分比表示，則左側(cè)變?yōu)?00。這就是設(shè)計(jì)吸收率的計(jì)算方法。 R(t%/Hvs$  
mN-O{k0\  
現(xiàn)在讓我們考慮一層厚度為dt的薄層埋在膜層內(nèi)。每單位面積薄層中的功率損失將是凈入射輻照度（Ienter）和凈出射輻照度（Iexit）之間的差值。這可以通過(guò)各種方式進(jìn)行操作。 Tkr~)2,(I!  
lP=,|xFra  
將入射到整個(gè)涂層上的輻射強(qiáng)度設(shè)為Iincidence，薄片的吸收率為dA，勢(shì)吸收率為da。則 wsdZwik  
ZXLAX9|  
,7$&gx>2&  
    然后，膜層中的總吸收率簡(jiǎn)單地是（2）在膜厚度上的積分。 d
kC_Sh{  
pZ $>Hh#  
圖1顯示了使用具有無(wú)吸收低折射率材料（SiO2）和輕微吸收的高折射率材料（TiO2）薄膜的窄帶濾光片的一些結(jié)果。電場(chǎng)分布的平方很好地解釋了吸收率變化。勢(shì)吸收率幾乎相同，因?yàn)榉瓷渎蕿榱�，但膜層前面部分的吸收降低了墳�(zāi)股系腎enter的值，因此膜層后部的吸收率逐漸增加。 AK lra$  
I!b"Rv=Nf-