X6]eQ PN2  
斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學(xué)計(jì)量設(shè)備，它們通常用于光學(xué)表面質(zhì)量的高精度測(cè)試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構(gòu)建了一個(gè)菲索干涉儀，并利用它測(cè)試了不同的光學(xué)表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產(chǎn)生的干涉條紋對(duì)表面輪廓具有敏感性。 \[w82%U  
CCZ]`*wJ  
建模任務(wù) Jm8#M z  
C.$`HGv  
)/F1,&/N`e  
&Rx-zp&dJ  
傾斜平面下的觀測(cè)條紋 sX,oJIt
 
bqAv)2  
Vee`q.