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斐索干涉儀是工業(yè)中常見的光學計量設(shè)備，它們通常用于光學表面質(zhì)量的高精度測試。 借助VirtualLab Fusion中的非順序追跡，我們構(gòu)建了一個菲索干涉儀，并利用它測試了不同的光學表面，例如圓柱形和球形。 可以看出，產(chǎn)生的干涉條紋對表面輪廓具有敏感性。 )W/;=K  
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建模任務(wù) dXF^(y]l  
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傾斜平面下的觀測條紋 wF((  
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圓柱面下的觀測條紋 :q#Xq;Wp  
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球面下的觀測條紋 g$b<1:8  
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