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當(dāng)一個(gè)分析請(qǐng)求執(zhí)行時(shí)，重要的是記住在FRED中的分析面只是在光線追跡結(jié)束后的后處理(過濾)光線。在光線追跡的過程中，它們不收集光線信息，無(wú)論光線的軌跡是否穿過分析網(wǎng)格。那么問題來(lái)了，“如何分析在光線追跡的過程中光線穿過光學(xué)空間的光場(chǎng)？” o~OwE7H)A  
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一種選擇是使用FRED探測(cè)器實(shí)體(Detector Entity)結(jié)構(gòu)。探測(cè)器實(shí)體與分析面類似，不過它們可以放在任何光學(xué)空間，而且可以在光線追跡的過程中動(dòng)態(tài)地收集光線信息(即光線穿過它們的收集網(wǎng)格)。目前，探測(cè)器實(shí)體對(duì)于相干或偏振光不起作用，只可以執(zhí)行輻照度、照度和彩色圖像的分析。 ?qd,>  
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盡管FRED沒有一個(gè)內(nèi)置的“光束足跡分析”程序，但我們將在FRED中使用探測(cè)器實(shí)體結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)類似的功能。 d]O_E4X*  
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設(shè)置計(jì)算 Q vv\+Jp^  
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文章使用如下圖像所示的光學(xué)系統(tǒng)。我們的目的是分析沿著如下所示的光路多個(gè)平面的處的光束足跡。 [+g(  
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為了捕捉在光線追跡中光線透過每個(gè)我們感興趣平面的足跡，我們將會(huì)使用FRED中的探測(cè)器實(shí)體結(jié)構(gòu)。探測(cè)器實(shí)體是一種分析節(jié)點(diǎn)的類型，它可以在光線追跡中與光線相互作用，可以定義多種多樣的形狀。光線相互作用，與光線濾光(一個(gè)后追跡過程)截然相反，使探測(cè)器實(shí)體能夠在任何光學(xué)空間任何時(shí)間動(dòng)態(tài)地收集數(shù)據(jù)。探測(cè)器實(shí)體本身能收集三個(gè)不同時(shí)間的數(shù)據(jù)：在光線追跡中(即，使用在追跡中任何時(shí)刻與探測(cè)器實(shí)體相交的光線)，剛好在光線追跡后(即，“終止”在探測(cè)器實(shí)體上的光線)，或者根據(jù)請(qǐng)求(即，請(qǐng)求時(shí)“在”探測(cè)器實(shí)體上的光線)。在一個(gè)具有和探測(cè)器實(shí)體相同名字的分析結(jié)果節(jié)點(diǎn)中，對(duì)于每個(gè)探測(cè)器實(shí)體來(lái)說(shuō)，光線面元的結(jié)果對(duì)用戶來(lái)說(shuō)是可獲得的。記住，因?yàn)樘綔y(cè)器實(shí)體在光線追跡中時(shí)是交叉的，您不應(yīng)該放置一個(gè)探測(cè)器實(shí)體與結(jié)構(gòu)中的其他表面重合。不遵守這個(gè)規(guī)則可能會(huì)導(dǎo)致不一致的結(jié)果，這歸因于與交叉重合的對(duì)象相聯(lián)系的歧義性。 lv<iJH\  
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與該文檔對(duì)應(yīng)的示例文件有5個(gè)平面探測(cè)器實(shí)體，位于系統(tǒng)中我們感興趣的平面上。這些探測(cè)器實(shí)體位于對(duì)象樹的分析面文件夾中，如下圖所示。 JCcN>DtP  
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讓我們來(lái)看看對(duì)于“光源平面”探測(cè)器實(shí)體詳細(xì)的控制。對(duì)于該探測(cè)器實(shí)體，平面X和Y尺寸范圍明確的限制為+-3，網(wǎng)格沿著A和B軸(X和Y)的分辨率設(shè)置為201，沿著整個(gè)寬度。正在做的計(jì)算是輻照度，用于分析的數(shù)據(jù)正在“追跡中”被收集。盡管對(duì)于我們的例子來(lái)說(shuō)這并不重要，探測(cè)器實(shí)體可以收集橫跨表面任何一個(gè)方向的光線數(shù)據(jù)。最后，探測(cè)器實(shí)體不吸收光線。 (v|r'B9b  
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