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- 注冊時間2020-06-19
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干涉法是光學(xué)測量的重要手段。廣泛用于測量例如,表面輪廓,缺損,高精度機(jī)械和熱畸變。作為經(jīng)典案例,我們在VirtualLab中搭建一個相干激光光源的馬赫-澤德干涉儀,并且演示傾斜和平移光學(xué)元件會如何影響干涉圖樣。 @.fyOyOC YQ+Kl[ec aab?hR =':,oz^| 模擬任務(wù) @GiR~bKZ 4U*uH 20t</lq. xf.2Ig 結(jié)果 wCb%{iowH fii\&p7z K{&b "Ba1 =!`\=!y 結(jié)果 '0xJp|[xVP h8yv:}XU* j;k(AM<
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