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    [技術(shù)]在準(zhǔn)直系統(tǒng)中模擬干涉條紋 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-02-14
    光學(xué)設(shè)計(jì)中,適當(dāng)?shù)乜紤]不良反應(yīng)是很重要的。例如,可能發(fā)生在每一個(gè)光學(xué)裝置非鍍膜表面上的多次反射所引發(fā)的鬼像效應(yīng),而且其對(duì)系統(tǒng)性能的影響也應(yīng)該被檢測(cè)。最近發(fā)布的非時(shí)序擴(kuò)展,VirtualLab可用于方便地分析影響,正如前面提到的鬼像。通過靈活的配置每個(gè)表面的通道,以及其他數(shù)值參數(shù),可以調(diào)整手中系統(tǒng)的模擬,以便分析不同的情況和改變準(zhǔn)確度。 "<LWz&e^^  
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    研究準(zhǔn)直系統(tǒng)中的鬼像影響
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    在任何光學(xué)系統(tǒng)中,總有造成鬼像的雜散光。雜散光可能有不同的起源,如不良反射和散射。以大孔徑激光二極管的準(zhǔn)直透鏡系統(tǒng)為例。在VirtualLab中由非時(shí)序追跡引擎研究表面之間的反射,多次反射可能導(dǎo)致平行光束的干涉條紋。 a4pe